単一分子計測&回折X線の追跡
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2014年11月6日 第 34 回表面科学学術講演会
表面科学学術講演会
において、下記発表をしてきました!
会期:平成 26 年 11 月 6 日 (木) ~ 8 日 (土)
場所:島根県立産業交流会館(くにびきメッセ)
○松下祐福、関口博史、太田昇、池崎圭吾、後藤祐児、佐々木裕次
「X線1分子追跡法を用いた結晶化前駆体クラスター動態観察とその界面物性評価」
○志村眞弘、松下祐福、池崎圭吾、宮坂知宏、一柳 光平、関口博史、井原康夫、佐々木裕次
「表面に固定した天然変性タンパク質分子のダイナミクス計測」